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| 供应老化测试板(图) 商机编号：20081007-85162 发布日期：2008年10月7日 有效日期：2009年1月5日 封装/批号：根据客户要求定制参考价： 规格/技术指标：老化测试板数量： 详细信息: 老化测试板; 为用户设计、配套老化测试设备所需各种型号的框架式、印制线路板式老化测试板。 1、双列直插式集成电路老化测试板 2、扁平封装集成电路老化测试板 3、各种分列器件老化测试板 |
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