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| 供应扁平封装集成电路测试夹具(图) 商机编号:20081007-74101 发布日期:2008年10月7日 有效日期:2009年1月5日 封装/批号:GLB2-18J参考价: 规格/技术指标:扁平封装集成电路测试夹具数量: 详细信息: 扁平封装集成电路测试夹具 该系列夹具供扁平封装的集成电路老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。 产品型号及规格; GLB2-18J |
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