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| 供应DIP集成电路老化测试座(图) 商机编号：20080822-73617 发布日期：2008年8月22日 有效日期：2008年9月1日 封装/批号：盒装参考价： 规格/技术指标：8～40脚数量：2000 详细信息: IC老化测试插座;该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用(间距2.54mm):.产品型号及规格；IC-8J、IC-14J、IC-16J、IC-18J、IC-20J、IC-24J、IC-28J、IC-40J |
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