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| 供应LJZ双列集成电路老化测试插座(图) 商机编号：20081007-73493 发布日期：2008年10月7日 有效日期：2009年1月5日 封装/批号：参考价： 规格/技术指标：LJZ-14、16、18、24、28、40数量：500 详细信息: 双列直插式集成电路测试插座该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用(间距2.54mm):产品型号及规格；LJZ-14、16、18、24、28、40 |
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