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| 供应半导体研究分析用X-RAY检查设备 商机编号：20081104-100653 发布日期：2008年11月4日 有效日期：2009年2月2日 封装/批号：1参考价：1 规格/技术指标：X-eye SF Series数量：10000 详细信息: 半导体研究分析用高性能Open Tube X-Ray检查设备(Focus:1um,管电压160KV) 高画质,高倍率的分析用X-RAY检查设备(最大倍率3200倍) 自动面积检测(Void,Solder ball),Auto-Teaching,Gold Wire曲率计算 Ｔable ATF(自动定位）功能 卓越的Ｎavigation功能（使用Ｄual Vision Camera) 6轴（Ｘ，Ｙ，Ｙ－aft,Rotation,Tilt)3D检查功能 完全防护型的完善的３重安全设计（０.５uSv/h or less) |
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