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| 供应半导体.SMT用X光透视检查设备 商机编号:20081104-100638 发布日期:2008年11月4日 有效日期:2009年2月2日 封装/批号:1参考价:1 规格/技术指标:1数量:1000 详细信息: 韩国SEC X射线透视检测系统X-eye 3000 |
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